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関東地方発明表彰において日立の特許「ITシステム分析基盤」が特許庁長官賞を受賞

株式会社日立製作所(以下,日立)は,このたび,公益社団法人 発明協会が主催する平成30年度関東地方発明表彰において,「ITシステム分析基盤(特許第5744362号)」について特許庁長官賞を受賞しました。表彰式は11月8日に浦安ブライトンホテル東京ベイで行われる予定です。

地方発明表彰は,大正10年に創設され,全国を8地方(北海道・東北・関東・中部・近畿・中国・四国・九州)に分けて実施されており,優れた発明,考案または意匠を生み出した技術者・研究者を表彰するものです。

今回,日立が受賞した発明は,ITシステムにおける障害の要因特定に必要な情報をわかりやすく表示することで,障害原因の調査・分析を容易とし,障害復旧までの時間を短縮する発明です。
本発明は,日立の統合システム運用管理JP1のIT運用分析製品である「JP1/Operations Analytics」に搭載し,製品化しています。

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【付帯情報】
・関東地方発明表彰において日立の特許「ITシステム分析基盤」が特許庁長官賞を受賞
http://itm.news2u.net/items/output/163117/1
・統合システム運用管理「JP1」Webサイト
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統合システム運用管理「JP1」Webサイト

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